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<blockquote style="position: relative; padding-left: 55px;"><section><a href="https://plushies.social/users/maxhorn/statuses/112948120998273421">Max Horn (maxhorn@plushies.social)'s status on Monday, 12-Aug-2024 17:43:15 JST</a><a href="https://plushies.social/@maxhorn" title="maxhorn@plushies.social"><img src="https://gnusocial.jp/avatar/227986-48-20241110100346.webp" width="48" height="48" alt="Max Horn" style="position: absolute; left: 0; top: 0;">Max Horn</a><div><a href="https://plushies.social/@maxhorn/112948054467927252" rel="in-reply-to">in reply to</a></div></section><article><p>🦄 Bei Tomas gibt's Schüppse!<br>👨🔬 Er kuckt 3D in Computerchips rein …<br>🦄 Schüppse 😋!</p><p><a href="https://plushies.social/tags/XRMHorn" rel="tag">#XRMHorn</a></p></article><footer><a rel="bookmark" href="https://gnusocial.jp/conversation/3508098#notice-6892136">In conversation</a><time datetime="2024-08-12T17:43:15+09:00" title="Monday, 12-Aug-2024 17:43:15 JST">about 4 months ago</time> <span>from <span><a href="https://plushies.social/@maxhorn/112948120998273421" rel="external" title="Sent from plushies.social via ActivityPub">plushies.social</a></span></span><a href="https://plushies.social/@maxhorn/112948120998273421">permalink</a><h4>Attachments</h4><ol><li><label><a rel="external" href="https://gnusocial.jp/attachment/3031910">Das Bild zeigt Max, das gestrickte Einhorn, das einem Vortrag auf der XRM2024-Konferenz in Lund aufmerksam folgt. Der Vortrag wird von Tomas Aidukas gehalten und behandelt die neuesten Fortschritte in der Röntgen-Tomographie mit einer Auflösung von 4 Nanometern. Der Titel der Präsentation lautet „Extended depth-of-field X-ray tomography at 4 nm resolution“.Die präsentierte Arbeit hebt hervor, dass es gelungen ist, 3D-Tomogramme von Computerchips mit einer extrem hohen räumlichen Auflösung von 4 Nanometern zu erstellen. Dies ist von besonderer Bedeutung, da im Gegensatz zur Elektronenmikroskopie die Röntgenstrahlen eine zerstörungsfreie 3D-Aufnahme erlauben. Auf der Präsentationsfolie ist eine detaillierte Darstellung der mikrostrukturellen Analyse eines FinFET-Transistors zu sehen, bei dem die Röntgen-Tomographie erfolgreich eingesetzt wurde, um die interne Struktur ohne Beschädigung des Chips zu untersuchen.Max scheint fasziniert von den wissenschaftlichen Details, die auf dem Bildschirm gezeigt werden, während Tomas Aidukas die Bedeutung und die technischen Errungenschaften dieser Methode erklärt. Die Röntgen-Tomographie auf dieser Skala ermöglicht es, elektronische Bauteile in einer Weise zu untersuchen, die bisher nur schwer erreichbar war, was die Möglichkeiten der Materialwissenschaft und der Halbleiterforschung erheblich erweitert.</a></label><br><a href="https://cdn.masto.host/plushiessocial/media_attachments/files/112/948/120/940/178/682/original/829607b14aacbf2b.jpg" rel="external">https://cdn.masto.host/plushiessocial/media_attachments/files/112/948/120/940/178/682/original/829607b14aacbf2b.jpg</a></li></ol></footer></blockquote>

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Max Horn (maxhorn@plushies.social)'s status on Monday, 12-Aug-2024 17:43:15 JST Max Horn
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🦄 Bei Tomas gibt's Schüppse!
👨🔬 Er kuckt 3D in Computerchips rein …
🦄 Schüppse 😋!
#XRMHorn
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1. Das Bild zeigt Max, das gestrickte Einhorn, das einem Vortrag auf der XRM2024-Konferenz in Lund aufmerksam folgt. Der Vortrag wird von Tomas Aidukas gehalten und behandelt die neuesten Fortschritte in der Röntgen-Tomographie mit einer Auflösung von 4 Nanometern. Der Titel der Präsentation lautet „Extended depth-of-field X-ray tomography at 4 nm resolution“. Die präsentierte Arbeit hebt hervor, dass es gelungen ist, 3D-Tomogramme von Computerchips mit einer extrem hohen räumlichen Auflösung von 4 Nanometern zu erstellen. Dies ist von besonderer Bedeutung, da im Gegensatz zur Elektronenmikroskopie die Röntgenstrahlen eine zerstörungsfreie 3D-Aufnahme erlauben. Auf der Präsentationsfolie ist eine detaillierte Darstellung der mikrostrukturellen Analyse eines FinFET-Transistors zu sehen, bei dem die Röntgen-Tomographie erfolgreich eingesetzt wurde, um die interne Struktur ohne Beschädigung des Chips zu untersuchen. Max scheint fasziniert von den wissenschaftlichen Details, die auf dem Bildschirm gezeigt werden, während Tomas Aidukas die Bedeutung und die technischen Errungenschaften dieser Methode erklärt. Die Röntgen-Tomographie auf dieser Skala ermöglicht es, elektronische Bauteile in einer Weise zu untersuchen, die bisher nur schwer erreichbar war, was die Möglichkeiten der Materialwissenschaft und der Halbleiterforschung erheblich erweitert.
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